
Многие дефекты электронных микросхем выявляются, когда полупроводниковая пластина уже подверглась многочисленным операциям обработки - нанесения слоев, травления и т.д. Исследователи из Мичиганского университета предложили метод автоматизированного д.....
подробнее...